EDX7100是專門針對(duì)ROHS/無(wú)鹵檢測(cè)、EN71等環(huán)保指令設(shè)計(jì)的一款光譜儀,是一款快速、準(zhǔn)確且經(jīng)濟(jì)高效的XRF熒光光譜分析儀,可快速檢測(cè)鉛(Pb),鎘(Cd),砷(As),汞(Hg),鉻(Cr),溴(Br),氯(Cl)和其他有毒有害元素。
技術(shù)原理:
RoHS檢測(cè)儀目前市場(chǎng)上常見(jiàn)的類型是X射線熒光分析儀,又分為能量色散型和波長(zhǎng)色散型,能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長(zhǎng)色散型簡(jiǎn)單,現(xiàn)市場(chǎng)上比較常見(jiàn),其技術(shù)原理:
特征X射線
放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用,逐出原子內(nèi)層電子。當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí),會(huì)放射該原子所固有能量的X射線-特征X射線。
元素含量與特征X射線強(qiáng)度的關(guān)系
不同元素特征X射線能量各不相同,依此進(jìn)行定性分析;再根據(jù)特征X射線強(qiáng)度大小,可進(jìn)行定量分析。
可用函數(shù)關(guān)系式表示為:C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中:Kn(n=1,2,3…)表示第n號(hào)元素的待定系數(shù)
In(n=1,2,3…)表示第n號(hào)元素釋放的特征X射線強(qiáng)度
由此可知只要通過(guò)標(biāo)定確定系數(shù)Kn之后便可進(jìn)行物質(zhì)中元素的定量分析了。
優(yōu)勢(shì):
一鍵式自動(dòng)測(cè)試,使用更簡(jiǎn)單,更方便,即使非技術(shù)人員也能快速上手。
采用美國(guó)AmpTek新型Si-pin探測(cè)器,電致冷技術(shù),體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低。
采用自主研發(fā)的探測(cè)器信號(hào)增強(qiáng)處理系統(tǒng),提高信噪比,達(dá)到實(shí)驗(yàn)室級(jí)別1ppm檢出限。
多重防輻射泄露設(shè)計(jì),輻射防護(hù)級(jí)別屬于同類產(chǎn)品。
機(jī)芯溫控技術(shù),保證X射線源的安全可靠運(yùn)行,降低使用成本。
優(yōu)化了Cl,Cr等元素的檢測(cè),大大提高了低含量Cl和Cr元素的測(cè)試靈敏度和穩(wěn)定性,為用戶的無(wú)鹵分析提供了更精準(zhǔn)的檢測(cè)方法。
可拓展鍍層測(cè)厚及金屬合金成分分析EDX7100的PC報(bào)告軟件可立即生成報(bào)告,也可自定義報(bào)告樣式,包括分析結(jié)果,樣品信息,光譜信息和樣品圖像??勺匪莸奈臋n使EDX7100成為RoHS符合性測(cè)試的理想工具。