X射線熒光光譜儀EDX9000B快速測定硅錳、硅鐵合金中硅錳磷硫含量

EDX9000B型 X-射線熒光能譜合金分析儀是一種高性能的多元素同時分析系統(tǒng)。

元素分析范圍：Na – U, 可滿足多種樣品類型，如固體，液體，塊狀，薄膜等。測量的濃度動態(tài)范圍從ppm – 100%. 可適合多基體，多元素同時分析。 8位濾光片可滿足設置多種分析條件，優(yōu)化分析方法。儀器采用高分辨率SDD檢測器，針對痕量元素具有超高探測靈敏度。優(yōu)化輸出的數(shù)字脈沖處理器DPP分析器，與用戶友好的界面互動，極低的運行和維護費用。

英飛思開發(fā)了用XRF壓片法樣品制備配合EDX9000B光譜儀測定硅錳和硅鐵合金中Si、Mn、P、S的試驗方法,分析其準確度和精密度。提高了經濟效益和社會效益,并將分析結果與國家標準分析結果進行比對，結果證明EDX9000B真空型X射線能量色散熒光光譜合金分析儀滿足生產和質量控制需求，符合客戶預期。

硅錳中 Si, P, Mn, S 的 ED-XRF9000B型合金分析儀 分析測試結果和譜圖如下